三维表面轮廓测量和粗糙度测量，即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。薄膜和厚膜的台阶高度测量划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量空间分析和表面纹理表征平面度和曲率测量二维薄膜应力测量微电子表面分析和MEMS表征表面质量和缺陷检测
探针式轮廓仪/台阶仪
- 产品品牌：
- 瑞鼎智造
- 产品型号：
- NanoStep-150
- 应用领域:
- 面板涂层厚度、表面平整度检测及太阳能电池栅线高度、膜层缺陷分析，保障光电产品制程质量；在薄膜与涂层领域，可对光学膜、装饰涂层、汽车航空厚膜涂层等进行厚度、附着力、耐磨性及表面纹理表征，助力涂层工艺优化；在材料科学领域，能实现金属、陶瓷、功能材料等的纳米级粗糙度定量评估、多层堆叠结构台阶高度与界面分析，为新材料开发及沉积工艺窗口优化提供精准数据；在生物医学领域，可完成生物组织工程支架厚度、微流控芯片通道尺寸及医疗器械涂层均匀性检测，适配生物软材料的低损伤测量需求；在光学与精密制造领域，能对透镜、棱镜等光学元
三维表面轮廓测量和粗糙度测量，即适用于精密抛光的光学表面也可适用于质地粗糙的机加工零件。薄膜和厚膜的台阶高度测量划痕形貌，磨损深度、宽度和体积定量测量空间分析和表面纹理表征平面度和曲率测量二维薄膜应力
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