红外焦平面测试系统 RUIDING-NX20，用于高精度测试红外探测器，能准确表征其多项性能参数，为器件性能优化提供依据。

系统用途：用于高精度测试红外探测器，准确表征响应度、噪声、NETD 及光谱响应范围等参数，支撑二维材料红外探测器开发，实现从材料制备到器件优化一体化，并通过性能参数分析优化器件设计。

设备特点

1.1 测试功能全面：

可进行相对光谱响应测试，覆盖 400NM - 14UM 波长范围，支持点源、线列和面源探测器测试；能为面源探测器提供噪声、响应率等多项性能指标测试。

1.2 探测器选择灵活：

多种标准探测器可选，配备校正证书。

1.3 波长覆盖广泛：

涵盖可见光、近红外、中波红外、长波红外，波长范围 400 - 700nm、700 - 2500nm、3 - 5um、8 - 14um。

1.4 适配多种材料：

适用于硅（SI）、铟镓砷（INGAAS）、锗（GE）、碲镉汞（HGCDTE）、量子阱（QWIP）、超晶格（INAS/GASB SL）等材料的探测器。

1.5 硬件性能优越：

支持更高 4096*4096 像素探测器；偏压通道数＞8 通道，电压 0 - 5.5V 可调，较大电流＞100MA；时钟驱动通道数＞8 通道，电压 0 - 5V 可调，较大频率 200MHZ；模拟采集通道数＞8 通道，A/D 为 16BIT/200MHZ。

1.6 软件操作便捷：

界面友好，流程化设计，“光谱响应测试”“光电性能测试”“基础设施” 功能分开；“光谱响应测试” 软件界面功能一键操作，有多种测试条件可选。

测量原理

1.1 相对光谱响应度测量：

光源经稳压稳流供电，光辐射经前光学系统进入单色仪，出射单色光经后光学系统分别入射到被测和标准探测器。可采用替代法（先测标准探测器信号，再测被校探测器信号，通过比较得出被校探测器光谱响应度）或逐点比较法（移动探测器位置，逐点测试比较信号，归一化处理得到相对光谱响应度）校准。

1.2 光电性能测试：

利用测试系统在黑体温度 T0 和 T 下连续采集 F 帧数据（线列焦平面采集 F 行数据），得到两组 F 帧二维数组，依据各指标定义公式计算噪声、响应率等性能指标。

1.3 光学配置：

面源黑体辐射面 120×120MM²，温度 0 - 120°C，分辨率 0.01°C；卤素灯波长覆盖 300 - 2500NM；积分球波段 0.4 - 2.5UM，光强 1 - 85000CD/M²，出口直径 50 - 100MM；单色仪波长覆盖 200 - 2400NM、1100 - 16000NM，光谱分辨率小于 1NM。