RUIDING-NX20红外焦平面测试系统

在军事、安防、工业检测、医疗等领域应用广泛。其性能优劣直接影响系统功能。瑞鼎智造的 RUIDING -NX20 红外焦平面测试系统，为探测器性能精准评估和优化提供可靠支持，助力相关产业发展。

系统概述

1.功能特性

性能测试表征：对红外探测器进行高精度、高效率测试表征，支持二维材料红外探测器开发，实现材料制备到器件优化一体化。

参数分析优化：分析响应度、噪声等参数，获取器件性能反馈，优化探测器设计，提升开发效率。

多类型探测器测试：适用于点源、线列和面源探测器，可测试多种性能指标。

2.技术指标

光谱响应测试：波长覆盖 400NM - 14UM，可采用替代法或逐点比较法校准相对光谱响应度。

光电性能测试：提供噪声、响应率等多种性能指标测试，测试精度高。

探测器支持：支持较大 4096*4096 像素的探测器，适配多种材料探测器。

电气参数：偏压、时钟驱动、模拟采集通道数多，电压、电流、频率范围广，A/D 精度高。

测试内容及方法

1.相对光谱响应测试

测量原理：光源经稳压稳流供电，光辐射经前光学系统进入单色仪，单色光经后光学系统分别入射到被测和标准探测器。

校准方法

替代法：在波长范围内，先测标准探测器信号，再测被测探测器信号，通过比较得到被测探测器光谱响应度。

逐点比较法：移动探测器或采用其他方法使光束分别入射，逐点测试比较信号，归一化处理后得到相对光谱响应度值。

2.光电性能测试

噪声测试：测量红外焦平面各有效像元在恒定温度黑体辐照下输出信号电压涨落的均方根值，求平均值得到噪声。

响应率测试：在两种不同温度黑体辐照条件下测试响应电压，根据定义计算响应率。

其他指标测试：依据相应定义和测试系统采集的数据，计算平均响应率、响应非均匀性、噪声等效温差、盲元率、探测率、固定图像噪声非线性度等指标。

系统配置

1.硬件配置

光学组件：面源黑体辐射面大、温度范围宽、分辨率高；卤素灯、积分球和单色仪波长覆盖广、光强范围大、光谱分辨率高。

探测器：多种标准探测器可选，配有校正证书，确保测试准确性。

电气模块：偏压、时钟驱动和模拟采集通道数量多、参数调节范围大，满足不同测试需求。

2.软件配置

操作界面：界面友好，流程化操作，各功能操作按钮设计简单，易于上手。

功能模块：“光谱响应测试” 软件具备生成校正系数、采集数据、导入校正系数、绘制和查看曲线等功能，还有多种测试条件可供选择。

方案优势

全面测试能力：能对多种类型探测器进行多参数测试，满足不同研发和生产需求。

高精度测试：依据国标，采用科学测试方法，结合优质硬件和软件，确保测试结果精准可靠。

灵活性和扩展性：多种标准探测器可选，支持不同像素和材料的探测器，软件功能丰富，可根据需求扩展测试功能。

技术支持与服务：瑞鼎智造提供专业技术支持和完善售后服务，保障系统稳定运行和测试工作顺利进行。

应用场景

科研机构：用于新型红外探测器研发，分析性能参数，优化设计方案，加速科研进程。

生产企业：在探测器生产过程中进行质量检测和性能评估，保证产品质量，提高生产效率。

检测机构：为客户提供第三方检测服务，出具权威检测报告，助力市场监管和产品认证。